日置絕緣電阻測試儀ST5680

特點

直流(liú)耐壓絕緣電阻測試儀ST5680

電池的安全(chéng)測試提供(gōng)更優化的檢測方案(àn) ，通(tōng)過波形分析提升(shēng)電池的檢測品質

準確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機質量

通(tōng)過波形和數值顯示(shì)有助於優化生產工序、對(duì)收回的不(bù)合格產品進行(xíng)分析、宣傳檢查的可(kě)靠性

防止因電弧放電導致微(wēi)小故障(zhàng)品流(liú)出

防止誤判導致的復測

支持(chí)廣泛(fàn)的國(guó)際標準 。搭載BDV（絕緣擊穿(chuān)電壓）測量功能 。

使(shǐ)用波形和數值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示(shì)功能】

ST5680是(shì)能夠基於各種(zhǒng)安全(chéng)標準進行(xíng)直流(liú)耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀 。

不(bù)僅可(kě)以進行(xíng)PASS/FAIL的合格與否判定 ，也可(kě)以顯示(shì)
、記(jì)錄測試時的輸出電壓波形和洩漏電流(liú)波形。

將測試可(kě)視(shì)化分析 ，有助於檢查的溯源(yuán)。

輸出電壓和洩漏電流(liú)以波形顯示(shì)

可(kě)以通(tōng)過波形確認測試時輸出電壓或洩漏電流(liú)的動向。

在確認波形的同時 ，還可(kě)按時間順序確認電壓值、洩漏電流(liú)值、電阻值。

無需(xū)使(shǐ)用電腦即可(kě)進行(xíng)波形放大顯示(shì)等操作 ，在現場就能進行(xíng)詳細的分析。

波形顯示(shì)的優點

有助於優化生產工序

通(tōng)過分析檢查時的波形 ，可(kě)以推斷(duàn)出生產工序中的不(bù)良因素(sù) 。通(tōng)過查明不(bù)良因素(sù) ，優化生產工序，從而能夠提高生產效率 。

有助於對(duì)收回的不(bù)合格產品進行(xíng)分析

可(kě)以把收回的不(bù)合格品與當初(chū)出廠檢測時的波形做(zuò)比對(duì) 。通(tōng)過優化合格品的判定標準，進一步提高生產質量。

有助於宣傳檢查的可(kě)靠性

波形的記(jì)錄管理有利(lì)於檢查的可(kě)溯源(yuán)性，構築更高品質的檢查體系 ，可(kě)以提升(shēng)客戶(hù)的信任 。

防止因電弧放電導致微(wēi)小故障(zhàng)品流(liú)出[【電弧放電檢測功能】

可(kě)以檢測因為焊接毛刺(cì)或粉塵異物等原因發生的電弧放電。

將引(yǐn)起輕(qīng)微(wēi)絕緣不(bù)良的產品判斷(duàn)為微(wēi)小故障(zhàng)品
，可(kě)以防止出廠後(hòu)因發熱原因引(yǐn)起的火災事故或故障(zhàng)等風(fēng)險。

防止誤判導致的復測【接觸檢查功能】

通(tōng)過測量端子(zǐ)間的電容(róng)（雜散電容(róng) 、被測物的電容(róng)），能判斷(duàn)是(shì)否正確連接檢測對(duì)象 。

防止將不(bù)合格品誤判為合格品

・測試中測試線(sī)脫落的情況

・測試部位間電阻增加的情況

例 ：測試線(sī)的老化、治具或高壓繼電器(qì)的老化等

可(kě)以輕(qīng)松使(shǐ)用

・利(lì)用兩(liǎng)端子(zǐ)可(kě)以實現簡單的接線(sī)

適用於電池、電機 、電子(zǐ)零件等的耐壓測試

ST5680是(shì)向測試對(duì)象輸出高電壓 ，測試絕緣性能的測試儀 。可(kě)以對(duì)從電子(zǐ)設備(bèi) 、電子(zǐ)零件、材料等的研(yán)究(jiū)開發到生產線(sī)的廣泛(fàn)對(duì)象進行(xíng)安全(chéng)測試。在電池中 ，用於電池模組(zǔ) 、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測試。

輸出電壓 Max.8 kV、輸出電流(liú) Max.20 mA

配備(bèi)了(le)測量測試對(duì)象的洩漏電流(liú)以評(píng)估絕緣性的直流(liú)耐壓測試模式(shì) ，以及測量電阻值以評(píng)估絕緣性的絕緣電阻測試模式(shì) 。

在直流(liú)耐壓測試中 ，可(kě)輸出最大8 kV
。 即使(shǐ)測試對(duì)象中含有電容(róng)成分 ，也可(kě)以通(tōng)過20 mA的大容(róng)量輸出對(duì)測試對(duì)象進行(xíng)高速充電，從而縮短檢查節(jiē)拍。

可(kě)以在不(bù)考慮電容(róng)成分的情況下進行(xíng)測試

就算是(shì)測試對(duì)象含有電容(róng)成分的情況下 ，因為有不(bù)易發生過衝的設計，不(bù)會對(duì)測試對(duì)象輸出超過設置電壓的電壓，所以可(kě)以放心進行(xíng)測試 。

另外，通(tōng)過配合延遲時間的設置 ，也可(kě)以不(bù)對(duì)充電電流(liú)流(liú)動的時間進行(xíng)判斷(duàn) ，從而防止誤判 。

※可(kě)測量的最大靜電電容(róng)量值200 nF (測量更大的電容(róng)值可(kě)能會導致測量時間變長，或者測量值的偏差變大。 ）

最小分辨率0.001 μA的高精(jīng)度判定

隨著電池和電機等絕緣性能的提高 ，對(duì)判斷(duàn)耐壓測試合格與否的電流(liú)值設置要求也越來越高，要求設置為更小的電流(liú)。如(rú)果使(shǐ)用分辨率低的耐壓測試儀，則無法準確測量洩漏電流(liú)的測量值 。ST5680實現了(le)最小分辨率0.001uA的高精(jīng)度規格 ，因此可(kě)以正確測量微(wēi)小的洩漏電流(liú)，判斷(duàn)合格與否 。

搭載BDV（絕緣擊穿(chuān)電壓）測量功能

搭載了(le)確認測試對(duì)象絕緣擊穿(chuān)電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。

以一定速度提高輸出電壓 ，確認達到絕緣擊穿(chuān)時的電壓。

測試方法按標準規定 ，有連續升(shēng)壓測試和逐級升(shēng)壓測試。

ST5680兩(liǎng)種(zhǒng)測試都可(kě)以實施 。可(kě)用於電池開發時的性能評(píng)價(jià)(絕緣耐力評(píng)估) 。

日置絕緣電阻測試儀ST5680

基本參數（精(jīng)度保證時間1年）

主要功能  直流(liú)耐壓測試 、絕緣電阻測試、絕緣擊穿(chuān)電壓測試、波形顯示(shì)功能、ARC放電檢測功能、

              接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能"表)

              功能一覽聯(lián)鎖、自動放電、消除(chú)偏移、瞬時輸出、命令監控 、I/O HANDLER、按鍵鎖定 、

              自檢 、校准期限(xiàn)檢測 、EXT SW（遠程(chéng)控制）

使(shǐ)用溫濕度範圍        0°C～40°C，80% RH或以下（無結露）

適合標準安全(chéng)性：IEC 61010                

               EMC：IEC 61326

電源(yuán)電壓AC 100 V ～ 240 V

功耗         約180 VA※                

※ 電源(yuán)條件為電源(yuán)電壓220 V 、電源(yuán)頻(pín)率 50/60 Hz 、測試模式(shì)直流(liú)耐壓測試 、測試電壓2.5 kV、

負載電流(liú)5 mA負載電阻500 kΩ）的情況下。

最大額定功率    800 VA

接口     通(tōng)訊：USB ，LAN ，EXT. I/O

           選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）

           存(cún)儲 ：U盤

尺寸·重量           305（W）×142（H）×430（D）mm（不(bù)含突起物）

                        10.0 kg ± 0.2 kg

附件       電源(yuán)線(sī) ，CD-ROM（PDF ：使(shǐ)用說明書 ，通(tōng)訊使(shǐ)用說明書） ，EXT.I/O用公頭連接器(qì)，

             EXT.I/O用連接器(qì)蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除(chú)治具，啓動指南

各測試·功能

直流(liú)耐壓測試輸出電壓 ：DC 0.010 kV ～ 8.000 kV（1 V分辨率）

                                               輸出設置精(jīng)度 ：±（1.2% of setting + 20 V）

                                               輸出電流(liú)/截止電流(liú) ：20 mA max

                                               電流(liú)精(jīng)度（*1） ：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA ：±1.5% rdg.

                                               最小分辨率 ：0.001 μA

                                               測試時間 ：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）

                                               電壓上升(shēng)/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

                                               短路電流(liú)200 mA 以上

                                               測試模式(shì)W→IR ，IR→W，程(chéng)序測試

絕緣電阻測試輸出電壓 ：DC 10 V ～ 2000 V（1 V分辨率）

                                               輸出設置精(jīng)度：±（1.2% of setting + 20 V）

                                               電阻值顯示(shì)範圍 ：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）

                                               精(jīng)度保證範圍 ：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ

                                               電阻精(jīng)度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格

                                               測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）

                                                電壓上升(shēng)/下降時間 ：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

絕緣擊穿(chuān)電壓測試測試方法 ：連續升(shēng)壓測試
，逐級升(shēng)壓測試

                               測量內(nèi)容(róng)：絕緣擊穿(chuān)電壓（kV），絕緣擊穿(chuān)的強(qiáng)度（kV/mm）

                               設定內(nèi)容(róng) ：初(chū)始電壓 ，結束電壓 ，升(shēng)壓速度，ARC檢測 ，電極間距離 ，電流(liú)上限(xiàn)值

波形顯示(shì)功能波形顯示(shì)內(nèi)容(róng)：電壓，電流(liú)，絕緣電阻

                               採樣速度 ：500 kS/s

                               內(nèi)存(cún)容(róng)量：512 K words

ARC放電檢測功能檢測方式(shì)：監視(shì)試驗(yàn)測試電壓的變動

                               設定內(nèi)容(róng)：測試電壓變動率1％～50％

存(cún)儲功能·波形·圖形

                保存(cún)到U盤

                保存(cún)格式(shì)：BMP 、PNG 、CSV文件

               ·面板保存(cún)功能

               將測試條件保存(cún)在主機內(nèi)存(cún)中

               直流(liú)耐壓測試模式(shì)/絕緣電阻測試模式(shì) ：最多64個

               程(chéng)序測試：最多30個（最多50步）

               絕緣擊穿(chuān)電壓測試：最多10個

               ·數據存(cún)儲功能

               測量值保存(cún)在內(nèi)存(cún)，最多32000個

判定功能（判定輸出）判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL）

                                               UPPER_FAIL ：測量值＞上限(xiàn)值

                                               PASS ：上限(xiàn)值≥測量值≥下限(xiàn)值

                                               LOWER_FAIL ：測量值＜下限(xiàn)值

注記(jì)（*1）環(huán)境溫度t不(bù)足(zú)5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) )

               環(huán)境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) )

絕緣電阻測量精(jīng)度（*2）（精(jīng)度保證測試電壓範圍：50 V ~ 2000 V）

測試範圍100 kΩ ～ 99.99 GΩ

10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ～ 999.9 MΩ

                               1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ±(20% rdg.)

100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ

                               100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ±(5% rdg.)

1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ

                               10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ±(2% rdg. + 5 dgt.)

10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ

                               1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)

100 μA ≦ I ≦ 20 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)

注記(jì)（*2）

· 測試電壓為50 V〜99 V時 ，測量精(jīng)度加算±10%

· 測試電壓為100 V〜999 V時，測量精(jīng)度加算±5%

· 測試電壓為1000 V〜2000 V時 ，測量精(jīng)度加算±2%

· 環(huán)境溫度t小於5℃時
，加上測量電流(liú)I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，

或者加上測量電流(liú)I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) )

· 環(huán)境溫度t超過35℃時，加上測量電流(liú)I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) ) ，

或者加上測量電流(liú)I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) )

· 測定速度為FAST2時 ，測量精(jīng)度加倍